SEM

 

SEM (Scanning Electron Microscope)

 

JEOL marka JSM-7600F SEM TEKNİK ÖZELLİKLERİ 

Büyütme  25x-1.000.000x
Hızlandırma gerilimi  0.1-30 kV 
Çözünürlük  1 kV GB modunda 1.5 nm-15 kV GB modunda 1.0 nm 
  Beş eksende stage hareketi sağlayan motor sürücü mevcuttur.
  Numune üzerinde elektron demetinin yaratacağı hasarları azaltan ve elektron birikimini engelleyen Gentle Beam modu mevcuttur.
Mevcut Dedektörler-Sistemler
SEI (Secondary Electron Image)  İkincil elektronları toplayan yüzey görüntüsü elde etmeye yarayan  dedektör.
RBEI (Retractable Backscatter Elektron Image) Geriye saçılan elektronları toplayan ve numunenin kompozisyonal görüntüsü veren dedektör.
LABE (Low Angle Backscatter Elektron)    
STEM (Scanning Transmission Elektron Mode)  30 kV de 0.8 nm çözünürlüğe sahip dedektör.
EDS (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy)  Numunedeki elementlerin atomik yüzdelerini veren sistem.
EBSD (Electron Backscatter Diffraction)  Kristal yapıdaki numunelerin kristalografik yönelimlerini belirmede kullanılan sistem.
EBIC (Electron Beam Induced Current)  Yarıiletken numunelerin analizi için kullanılan sistem. 

 

Bağlantılar
Fotoğraf Albümü
AKADEMİK PERSONEL
İletişim

Malzeme Araştırma Laboratuvarı                          0 252 211 30 74

Manyetik Malzeme Araştırma Laboratuvarı        0 252 211 30 74

Biyokimya Laboratuvarı                                          0 252 211 49 27

Biyokimya Laboratuvarı                                          -

Yukarı Çık